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図書書誌情報
所蔵情報
該当件数:
1件
巻書名
所蔵ID
受入年月日
配架場所
請求記号
返却予定日
所蔵資料種別
ステータス
予約数
000479943
2006/10/19
2階 和書
371.7
WI
図書
貸出可能
0
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図書書誌情報
書名
WISC-IIIアセスメント事例集 : 理論と実際
書名カナ
WISC-III アセスメント ジレイシュウ : リロン ト ジッサイ
著者名
藤田和弘 [ほか] 編著
出版事項
東京 : 日本文化科学社, 2005.4
形態
v, 362p ; 21cm
注記
その他の編著者: 上野一彦, 前川久男, 石隈利紀, 大六一志
巻冊次表示
巻書名
ISBN
書籍リンク
4821063611
言語
jpn : 日本語
和洋区分
日本語資料
書誌番号
0000117762
NACSIS ID
BA71763458
著者名典拠
藤田, 和弘(1942-)
前川, 久男
上野, 一彦(1943-)
石隈, 利紀(1950-)
分類
NDC8版 : 371.7
NDC9版 : 371.7
国立国会図書館分類表 : SB215
件名
[普通件名] : BSH :
知能検査
|| チノウケンサ // K
[普通件名] : MESH :
Intelligence Tests
// K